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全球電子報017期

經濟部標準檢驗局99年度成果發表暨技術研討會

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發刊日期:2010.10.28

  【資電學院訊】資電學院積體電路電磁相容研究發展中心(簡稱積電中心)辦理經濟部標準檢驗局自2008年起擬定為期4年之「智慧型車輛零組件標準與驗證能量建立」計畫中「車用晶片系統封裝EMC/SI/PI」子計畫,並於今年10月20日在台北辦理研討會分享與說明。成果發表會由標檢局陳介山局長主持,本校李秉乾副校長、元智大學通訊研究中心彭松村主任與電電公會及汽車電子委員會副主任委員游文光董事長、財團法人車輛研究測試中心黃隆洲總經理等產官學研貴賓蒞臨。
  今年邀請Chrysler王政資深經理回國分享技術經驗,從北美放大到全球,分析國際車廠的車輛電子環境驗證標準;除分享國際經驗外,也鼓勵國內產業界與學術界重視電磁相容的設計與分析技術,並由本校積電中心針對車用晶片系統封裝EMC/SI/PI之技術研究承辦設計競賽,於研討會中頒發獎項予傑出的產業組與學術組代表(產業組:優等-環隆電氣、微星科技、(鴻海、裕隆汽車);甲等-財團法人台灣電子檢驗中心、新眾電腦、為升電裝、奕柇科技;佳作-鍇振科技、智微科技)、(學術組:第一名-國立勤益科技大學;第二名~第三名-逢甲大學;甲等-逢甲大學、交通大學;佳作-雲林科技大學、交通大學),同時也於現場展示分享成果。
  本校與財團法人車輛研究測試中心各別執行的經濟部標準檢驗局之子計畫已邁入第3年,目的在於協助國內車輛電子產業瞭解國際驗證技術發展趨勢和積體電路電磁相容性(IC-EMC)之量測與分析技術,及未來在驗證標準上的因應與規劃,提昇車電產業國際競爭力。
 

圖說:本校李秉乾副校長(左1)10月20日參加「經濟部標準檢驗局99年度成果發表暨技術研討會」。(照片/積電中心提供)